德国菲希尔 FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射线荧光测试仪

商品详情

XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品引见

FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型丈量箱。其所配备的大面积硅漂移探测 器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能够有用地丈量元素Na、Mg和元素Zn、Cu、Ni 的L辐射。大孔径准直器的利用大幅前进了旌旗灯号计数率，使仪器能够到达极小的重复精度和极低的丈量下限。XUV十分合适丈量极薄的镀层和痕量分析。

接纳差别的准直器和根柢滤片组合，能够包管每 一次的丈量都在最好的条件下完成。在丈量的同时，能够直观地检察丈量点的影象。仪器丈量空间广大，样品安排便利，配合可编程的XYZ轴事情台，既合适丈量平面、大型板材类样品，也合适形状庞大的样品。而且使得连续丈量分析镀层 厚度或元素分析也变得直观而简朴。仪器配有一个激光定位点作为帮助定位装置，进一步便利了 样品的快速定位。

基于仪器的通用假想和真空丈量箱所带来的扩展的 丈量才气，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不但可用 于钻研和开辟，也十分合适历程把握和尝试室利用。

XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品特征

带铍窗口的微聚焦X射线铑管，可选钨管和钼管。最高事情条件：50 kV, 50W

X射线探测器接纳珀尔帖致冷的硅漂移探测器

准直器：4个，可自动切换，从直径0.1mm到3mm

根柢滤片：6个，可自动切换

可编程XYZ事情台

摄像头用来检察根柢射线轴向标的目标的丈量地位。刻度线经过校准，显理想际丈量点大小。

可在真空，氛围大概氦气的情况下事情

XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品利用

丈量轻元素

丈量超薄镀层和痕量分析

通例金属分析审定

非破坏式宝石分析

太阳能光伏财产

XUV® 773 X射线荧光测试仪 实例利用

种类、前导发端和实在性，是评价宝石代价的素质特征；而宝石材质的分析功效则是影响判定的决定性身分。凡是，宝石的主要成分是铝和硅的氧化物，还会陪同随镁和钠等元素。别的，Cr、Fe、Ga等微量元素也是很主要的。XUV能够分析统统须要元素的光谱图。

在多个范围的利用中，十分薄的Al镀层、Si镀层、氧化铝镀层和氧化硅镀层正在变得原来越主要。在真空情况中镀层厚度的丈量功效有明显的前进。利用XUV来丈量这些镀层，重复精度仅几个纳米。

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