日本奥林巴斯Olympus OLS4100激光扫描显微镜

商品详情

LEXT OLS4100激光扫描显微镜 产物简介

奥林巴斯 3D 丈量激鲜明微镜普遍利用于差别行业的质量把握、钻研和开辟历程，它在激鲜明微范围建立了全新的 尺度。现在，为满意丈量精度不竭前进和丈量范围日趋扩展的需求，奥林巴斯推出了新型产物 LEXT OLS4100。 该产物不但能够让丈量愈放慢速、简朴，而且能够拍摄到更高画质的影象，大大突破了激鲜明微镜的界线。 全新的 OLYMPUS LEXT OLS4100。突破“能够”的界线。

 LEXT OLS4100激光扫描显微镜 产物劣势

非打仗式、无损丈量 激光扫描显微镜（LSM）接纳的是低功率激光，不打仗样品。因此，不像基于探针体系的打仗式表面粗糙度仪那样存在破坏样品的风险。

杰出的 XY 丈量 在 XY 平面精确丈量亚微米级的距离 干涉仪是基于一般白光的光学显微镜，它的平面辩白率不高。而 LSM 经过历程接纳更大数值孔径的物镜，和更小波长的光波，极大地前进了平面辩白率。而且经过历程高精度的激光把握技术，得到更加精确的样品表面形貌。按照拍摄到的图象，LSM能够停止十分精确的 XY 平面亚微 米丈量。LEXT OLS4100 到达了0.12 μm 的平面辩白率。

无需前期筹办便可成像 扫描电子显微镜（SEM）在观察之前需求停止前期的样品筹办，如真空脱水和（或）切片处理使之合适样品室。而 LSM 则无需前期的样品筹办便可对样品停止丈量。而且，将样品安排在载物台上以后，便可直接开端成像。

更大的样品范围-轻松检测 85° 尖锐角

接纳了有着高 N.A. 的公用物镜和公用光学体系（能最大限度阐扬 405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 能够精确地丈量不竭以来没法丈量的有尖锐角的样品。这有益于粗糙度的丈量。

高度辩白率 10 nm，轻松丈量细小表面

因为接纳 405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4100 到达了 0.12 μm 的平面辩白率。 因此，能够对样品的表面停止亚微米的丈量。分离高精度的 0.8 nm 的光栅读取才气和软件算法，

抑止反射率的差别

OLS4100 接纳了双共焦体系，分离高活络度的探测器，那些具有差别反射率质料的样品， 也能在OLS4100上得到较着的影象。

观察／丈量透明质料的各个层

多层情势可完成对透明样品的顶部的透明层停止观察和丈量。即便在玻璃基片上覆有一层透明树脂层，也可丈量出各层的形状和 粗糙度和表面覆膜的厚度。

适用于透明层-多层情势

LEXT OLS4100 全新的多层情势则能够辨认多层样品各层上反射光强度的峰值地区，并将各层设为中心，如许便可完成对透明样品上表面的观察和丈量，而且也能够对多层样品的各层停止分析和厚度丈量。

产业范围初创* 的两项性能包管 凡是暗示丈量仪器的丈量精度的，有2 个目标："精确性"，即丈量值与真正值的靠近水平，和"重复性"，即多次丈量值的偏向水平。OLS4100 是业界初度同时包管了"精确性"和"重复性"的激光扫描显微镜。

更多的丈量范例-7 种丈量情势

更精准的粗糙度丈量 作为表面粗糙度丈量的新尺度，奥林巴斯开辟了 LEXT OLS4100。对LEXT OLS4100 停止了与打仗式表面粗糙度丈量仪一样的校订，并在 LEXT OLS4100 上设置了险些统统须要的粗糙度参数和滤镜。如许，关于利用打仗式表面粗糙度丈量仪的用户来讲，能得到操纵性和交换性优秀的输出功效。别的，还搭载了粗糙度公用情势，能够用自动拼接服从丈量样品表面直线距离最长为 100 mm 的粗糙度。 • 微细粗糙度 利用打仗式表面粗糙度丈量仪，没法丈量比探针的针尖直径更纤细的表面表面。而 OLS4100 有着细小的激光光斑直径，所 以能够对微细形状停止高辩白率的粗糙度丈量。

• 非打仗式丈量 利用打仗式表面粗糙度丈量仪丈量柔嫩的样品时，样品简朴遭到探针损伤而变形。别的，带有粘性的样品会粘在探针上，没法得到精确的丈量功效。而非打仗式的激鲜明微镜 OLS4100，不会影响样品的表面形状，能够精确的丈量样品的表面粗糙度。

• 微米级特征的丈量 利用打仗式表面粗糙度丈量仪，其探针没法进入微米级的地区，所以不能对这些地区的特征停止丈量。而OLS4100 能够准肯定位，能轻松丈量出特定细小地区的粗糙度。

浅易的三步流程

利用LEXT OLS4100，只需将样品安排在载物台上以后便可立刻开端观察／丈量。因为接纳了浅易的三步流程——成像、丈量和报表——即便用户不熟谙激鲜明微镜，也能够快速把握丈量的流程。

快速的宏观图拼接

扫描大面积地区时有两种拼接伎俩可用 ：获得实时影象时 的手动情势和快速获得影象时的自动情势。操纵十分快速 简朴——2D 拼接只需一键操纵便可开端，而且可立刻得到 大面积的拼接影象。自动情势下有五级拼接尺寸可用，分 别为 ：3×3、5×5、7×7、9×9 和 21×21。关于影象上不 需求的部门，能够利用简朴的鼠标或把握杆操纵手动删除。

用于浅易3D 成像的智能扫描

自动3D影象获得

传统的3D 扫描需求庞大的设置，这对新手来讲好不简朴。LEXT OLS4100 接纳了全新的智能扫描情势，即即是初度利用的用户也只需一键操纵便可快速获得3D 影象。除高低限的设置，体系也会按照要获得的影象自动设置相宜的亮度。这让即即是初度利用的用户也能得到精确的高度丈量和优秀的影象。

更快的扫描速率

新的超快情势获得扫描影象的速率是传统快速情势的2 倍，约是精密情势的9 倍。因此，关于那些需求十分精密的Z 轴移动和极高的放大倍率的样品，该情势就十分地适用，比方对刀具的尖端停止检测。

全新的高速拼接情势

从大范围拼接影象中指定目标地区

在宏观图中，要观察的地区能够从大范围的视图中停止指定。在自动情势中，经过历程设置最多625 幅影象的矩形拼接尺寸，能够自动生成地区图，所需的工夫约莫只需求凡是的一半。下一步，在地区图上指定所需的影象并立刻开端观察。

手动指定所需的影象地区

在实时情势中，经过历程在屏幕上跟踪所需的地区，能够手动选摘要观察的地区。当观察的样品具有不划定规矩的形状时，该服从十分适用。

快速影象拼接

要利用智能扫描情势获得影象时，只需一键操纵便可。因为智能扫描会自动调解Z 轴标的目标的设置，Z 轴标的目标的影象获得能够仅范围在所需的地区，因此能够在停止大范围大功率观察时撙节许多工夫。

一键操纵定制报表

创立报表

OLS4100 在丈量后可利用一键操纵创立报表，而且利用编辑服从能够定制各个报表模板。将丈量功效复制和粘贴到Word 或表格利用法式也十分简朴，就像从数据库取回所需的影象和报表一样。

目标的一键处理计划

导游服从

为用户假想的具体的导游服从打消了烦复的培训，让新手也能快速简朴地停止操纵。

商品参数

主机
LSM 部门		光源、检出体系	光源：405 nm 半导体激光  检出体系：光电倍增管
		总倍率	108x ～ 17,280x
		变焦	光学变焦1x ～ 8x
丈量	平面丈量	重复性	00x: 3σn-1=0.02 µm
		精确性	丈量值的±2%以内
	高度丈量	方法	物镜转换器高低驱动方法
		路程	10 mm
		内置比例尺	0.8 nm
		移动辩白率	10 nm
		闪现辩白率	1 nm
		重复性	50x: σn-1=0.012 μm
		精确性	0.2 ＋ L/100 μm 以下（L＝丈量长度μm）
彩色观察部门		光源、检查体系	光源：红色LED，  检查体系：1/1.8 英寸200 万像素单片CCD
		变焦	数码变焦1x ～ 8x
物镜转换器			6 孔电植物镜转换器
微分干涉单元			微分干涉滑片：U-DICR，  内置偏振光片单元
物镜			明视场平面半消色差透镜5x、10x  LEXT 公用平面复消色差透镜20x、50x、100x
Z 对焦部门路程			100 mm
XY 载物台			100×100 mm（电动载物台），  选件: 300×300 mm（电动载物台）

此装备为专为在产业情况下实施检测假想的A 类装备。如在室第区内利用能够会滋扰其他装备。

物镜
型号	倍率	视场	事情距离（WD）	数值孔径（N/A）
MPLFLN5X	108x-864x	2,560-320 μm	20.0 mm	0.15
MPLFLN10X	216x-1,728x	1,280-160 μm	11.0 mm	0.30
MPLAPON20XLEXT	432x-3,456x	640-80 μm	1.0 mm	0.60
MPLAPON50XLEXT	1,080x-8,640x	256-32 μm	0.35 mm	0.95
MPLAPON100XLEXT	2,160x-17,280x	128-16 μm	0.35 mm	0.95

利用实例

根前导发端根底理

OLS4100 的根前导发端根底理

405nm激光扫描 光学显微镜的水平辩白率很大水平上取决于所用光的光子和波长。接纳短波长的激光扫描显微镜（LSM）比接纳可见光 （550 nm 峰值）的传统显微镜，具有更高的水平辩白率。LEXT OLS4100 所利用的是 405 nm 的短波长半导体激光，因此具有 优秀的平面辩白率。

2D 扫描体系 OLS4100 配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型 2D 扫描仪，电磁 MEMS 扫描卖力 X 标的目标，Galvano 振镜卖力 Y 标的目标。该创新型体系使得扫描仪的轴 和物镜瞳镜处于共轭地位，这是一个幻想的光学计划，该体系能够停止高速、低变形的高精度 XY 扫描，使得 OLS4100 能够完成高达 4096×4096 像素的高精度扫描。

共焦光学体系

共焦光学体系有两种特有结果 ：去除模糊影象中的光斑、抽取同一高度平面。光斑的去除提拔了 XY 的辩白率，加上只抽取同 一高度平面的服从，因此共焦光学体系也作为高度传感器来利用。OLS4100 配有奥林巴斯双共焦体系，即便具有差别反射率 的样品，也能够得到十分明了的影象。针孔发生共焦结果，使得各个标的目标都具有较佳的比较度。

CFO 检索 检测高度信息是 OLS4100 的一项根柢服从。通 过在 Z 轴标的目标上移植物镜，检测出光强度变革 来获得高度信息。奥林巴斯的 CFO 技术能够自 动检测光强度以获得不连续的数据，得到幻想 I-Z 曲线，从而计算出最大亮度值和响应的 Z 轴 信息，用于肯定影象的像素。CFO 技术能够获 得高重复性的数据。

OLS4100 光路图

高画质影象

明了较着的 3D 彩色影象

三种范例的综合影象

LEXT OLS4100 能够同时获得三种差别范例的影象信息 ：真彩3D影象、激光全中心3D 影象和高度信息影象。

再现自然色

OLS4100 接纳了红色的 LED 光源和高色彩保真度的 CCD 照相装置以生成明了、色彩自然的影象，所得影象能够与初级的光 学显微镜相媲美。

更加实在地再现表面

激光DIC（激光微分干涉）

微分干涉观察是逾越了激鲜明微镜的辩白率、能够观察到纳米以下细小表面表面的观察办法。LEXT OLS4100 经过历程装置在物镜上方的DIC 分光棱镜，将照明光横向分为两束光芒来映还是品。获得由样品直接反射返来的两束光芒的差，生成明暗比较，从而完成对细小凹凸的平面观察。LEXTOLS4100 具有DIC 激光情势，即即是低倍率的静态观察，也能得到靠近电子显微镜辩白率的影象。

亮度和比较度之间更加优化的均衡

HDR（高静态范围）影象

OLS4100 的高静态范围（HDR）服从分离了多张以差别暴光率获得的光学显微镜影象，而且分别把握着亮度、比较度、纹理和饱和度，因此HDR 能够以宽静态范围处理影象。OLS4100 特别能够对纹理不较着的样品的彩色影象停止明了地观察。

     

厂家引见

● 奥林巴斯（中国）有限公司是一家主营产业、医疗和消耗者市场的国际公司，专业停止光学、电子学和精密性工程钻研。 

● 有关奥林巴斯公司的财政、投资商干系、公司简介和公司历史等信息，请会晤奥林巴斯环球营业信息网站。

● 该网站涵盖了各种产业抢先技术的投资信息，包罗创新型检测、丈量和影象装备的投资信息。各种先辈的检测技术，包罗：内窥检测技术（RVI）、显微镜技术（IE）、超声波技术（UT）、相控阵技术（PA）、涡流技术（EC）、涡流阵列技术（ECA）、X射线荧光技术（XRF）和光学丈量技术。我们的产物包罗超声波探伤仪、测厚仪、内窥镜、管道镜、显微镜、先辈的在线无损检测体系、XRF和XRD分析仪、干涉仪，并有各种产业扫描仪、探头、软件法式和装备附件可供选择。

● 我们的目标是为环球的消耗者供给牢靠、经济的体系。为此，我们增强了体系的宁静性和质量，包管了消耗者的消耗劲，从而为社会作出贡献。我们不竭自动开辟新技术、新产物和新效率，包管一直用最超卓的计划满意消耗者的需求。因为产物的质量直接干系到我们抵消耗者的任务，因此在停止高质量的产物假想时，我们一直服从最高的产业尺度和规章，以确保产物对公众的宁静。

认证证书